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CS9922GS-1光伏安規(guī)測試儀產(chǎn)品簡介光伏安規(guī)測試儀是一種用于測試PV模塊、電纜、連接器、接線盒的試驗儀器，可應(yīng)對高電壓和高靈敏度絕緣試驗。具有DC耐壓測試和絕緣電阻測試兩種功能，根據(jù)IEC61730標(biāo)準(zhǔn)中對光伏組件應(yīng)用等級的定義，分為A、B、C級。電流測量端可選擇接地模式或浮地模式。光伏組件的絕緣耐壓試驗同IEC61215/61646一樣依據(jù)于應(yīng)用類別和系統(tǒng)的大電壓。
更新時間：2018-09-27
CS9922GS-1光伏安規(guī)測試儀系列技術(shù)參數(shù)
型號 | CS9922GS | CS9922GS-1 | CS9923GS | ||
ACW | 輸出 | 范圍 | 0.050kV～5.000kV | 0.050kV～5.000kV |
|
電壓 | 精度 | ±（1.5％讀值+2V） | ±（1.5％讀值+2V） | ||
| 分辨率 | 1V | 1V | ||
最大輸出功率 | 100VA（5.000kV/20mA） | 500VA（5.000kV/20mA/100 mA） | |||
最大額定電流 | 20mA | 100mA | |||
下限電流范圍 | 0～20mA,0=不判斷下限 | 0～100mA,0=不判斷下限 | |||
電流檔位 | 200uA、2mA、20mA | 200uA、2mA、20mA、100mA | |||
電弧偵測 | (0.00-20.00)mA ac/(0-9) 0=關(guān) | (0.00-20.00)mA ac/(0-9) 0=關(guān) | |||
電弧偵測時間 | (0.0-999.9)秒 0＝Disable | (0.0-999.9)秒 0＝Disable | |||
輸出波形 | 正弦波 | 正弦波 | |||
輸出波形失真度 | ≤2%（空載或純阻性負(fù)載） | ≤2%（空載或純阻性負(fù)載） | |||
電壓上升時間 | 0.3s～999.9s 0=電壓上升時間關(guān) | 0.3s～999.9s 0=電壓上升時間關(guān) | |||
測試時間 | 0.3s～999.9s 0=連續(xù)測試 | 0.3s～999.9s 0=連續(xù)測試 | |||
電壓下降時間 | 0.3s～999.9s 0=電壓下降時間關(guān) | 0.3s～999.9s 0=電壓下降時間關(guān) | |||
間隔時間 | 0.0s～999.9s 0=間隔時間關(guān) | 0.0s～999.9s 0=間隔時間關(guān) | |||
輸出電壓模式 | N模式、G模式 | N模式、G模式 | |||
DCW | 輸出 | 范圍 | 0.050kV～6.000kV | 0.050kV～6.000kV | 0.050kV～9.999kV |
電壓 | 精度 | ±（1.2％讀值+2V） | ±（1.2％讀值+2V） | ±（1.2％讀值+2V） | |
| 分辨率 | 1V | 1V | 1V | |
最大輸出功率 | 60W（6.000kV10mA） | 300W（6.000kV50mA） | 60W（6.000kV10mA） | ||
最大額定電流 | 10mA | 50mA | 10mA | ||
電流檔位 | 2uA、20uA、200uA、2mA、10mA | 2uA、20uA、200uA、2mA、10mA、50mA | 2uA、20uA、200uA、2mA、10mA | ||
紋波系數(shù) | ≤5%（6kV/10mA） | ≤5%（6kV/10mA） | ≤5%（6kV/10mA） | ||
放電時間 | ≤200ms | ≤200ms | ≤200ms | ||
電弧偵測 | (0.00-10.00)mAac/(0-9) 0=關(guān) | (0.00-20.00)mAac/(0-9) 0=關(guān) | (0.00-10.00)mAac/(0-9) 0=關(guān) | ||
電弧偵測時間 | (0.0-999.9)秒 0＝Disable | (0.0-999.9)秒 0＝Disable | (0.0-999.9)秒 0＝Disable | ||
電壓上升時間 | 0.3s～999.9s 0=電壓上升時間關(guān) | 0.3s～999.9s 0=電壓上升時間關(guān) | 0.3s～999.9s 0=電壓上升時間關(guān) | ||
測試時間 | 0.3s～999.9s 0=連續(xù)測試 | 0.3s～999.9s 0=連續(xù)測試 | 0.3s～999.9s 0=連續(xù)測試 | ||
電壓下降時間 | 0.3s～999.9s 0=電壓下降時間關(guān) | 0.3s～999.9s 0=電壓下降時間關(guān) | 0.3s～999.9s 0=電壓下降時間關(guān) | ||
間隔時間 | 0.0s～999.9s 0=間隔時間關(guān) | 0.0s～999.9s 0=間隔時間關(guān) | 0.0s～999.9s 0=間隔時間關(guān) | ||
延時報警時間 | 0.3s～999.9s 0=延時報警時間關(guān) | 0.3s～999.9s 0=延時報警時間關(guān) | 0.3s～999.9s 0=延時報警時間關(guān) | ||
輸出電壓模式 | N模式、G模式 | N模式、G模式 | N模式、G模式 | ||
IR | 輸出 | 范圍 | 0.100kV～1.000kV | 0.100kV～1.000kV | 0.100kV～1.000kV |
電壓 | 精度 | ±（1.2％讀值+5V） | ±（1.2％讀值+5V） | ±（1.2％讀值+5V） | |
| 分辨率 | 1V | 1V | 1V | |
最大上限設(shè)定值 | 50.00GΩ | 50.00GΩ | 50.00GΩ | ||
最大下限設(shè)定值 | 50.00GΩ | 50.00GΩ | 50.00GΩ | ||
最小下限設(shè)定值 | 1MΩ | 1MΩ | 1MΩ | ||
電壓上升時間 | 0.3s～999.9s 0=電壓上升時間關(guān) | 0.3s～999.9s 0=電壓上升時間關(guān) | 0.3s～999.9s 0=電壓上升時間關(guān) | ||
測試時間 | 0.3s～999.9s 0=連續(xù)測試 | 0.3s～999.9s 0=連續(xù)測試 | 0.3s～999.9s 0=連續(xù)測試 | ||
間隔時間 | 0.0s～999.9s 0=間隔時間關(guān) | 0.0s～999.9s 0=間隔時間關(guān) | 0.0s～999.9s 0=間隔時間關(guān) | ||
自動切換檔位 | 可設(shè)置為開、關(guān) | 可設(shè)置為開、關(guān) | 可設(shè)置為開、關(guān) | ||
放電時間 | ≤200ms | ≤200ms | ≤200ms | ||
電 | 范圍 | 0.000kV～6.000kV | 0.000kV～6.000kV | 0.000kV～6.000kV | |
壓 | 精度 | ±（1％讀值+5V）電壓≥1.000kV ±（2％讀值+5V）電壓<1.000kV | ±（1％讀值+5V）電壓≥1.000kV ±（2％讀值+5V）電壓<1.000kV | ±（1％讀值+5V）電壓≥1.000kV ±（2％讀值+5V）電壓<1.000kV | |
表 | 分辨率 | 1V | 1V | 1V | |
| 顯示數(shù)值 | 均方根值 | 均方根值 | 均方根值 | |
電 | 測量 | AC | 0 ～ 20mA | 0 ～ 20mA | 0 ～ 20mA |
流 | 范圍 | DC | 0 ～ 10mA | 0 ～ 10mA | 0 ～ 10mA |
表 | 分辨率 | AC | 200uA檔：0.1uA,2mA檔：1uA,20mA檔：10uA | 200uA檔：0.1uA,2mA檔：1uA,20mA檔：10uA | 200uA檔：0.1uA,2mA檔：1uA,20mA檔：10uA |
| DC | 2uA檔：0.001uA, | 2uA檔：0.001uA, | 2uA檔：0.001uA, | |
| 20uA檔：0.01uA, | 20uA檔：0.01uA, | 20uA檔：0.01uA, | ||
| 200uA檔：0.1uA, | 200uA檔：0.1uA, | 200uA檔：0.1uA, | ||
| 2mA檔：1uA, | 2mA檔：1uA, | 2mA檔：1uA, | ||
| 10mA檔:10uA | 10mA檔:10uA | 10mA檔:10uA | ||
| 測量精度 | ±（2%讀值+2個字） | ±（2%讀值+2個字） | ±（2%讀值+2個字） | |
| 偏移功能 | 測試線及附件的的電流可以被減去。 | 測試線及附件的的電流可以被減去。 | 測試線及附件的的電流可以被減去。 | |
| 測試模式 | 接地 模式：RETURN端接機殼 | 接地 模式：RETURN端接機殼 | 接地 模式：RETURN端接機殼 | |
| 浮地 模式：RETURN端不接機殼 | 浮地 模式：RETURN端不接機殼 | 浮地 模式：RETURN端不接機殼 | ||
電 | 測量范圍 | 1MΩ～9.999G | 1MΩ～9.999G | 1MΩ～9.999G | |
阻 | 分辨率 | 1.00MΩ～10.00MΩ為0.01MΩ 10 .00MΩ～100.0MΩ為0.01MΩ | 1.00MΩ～10.00MΩ為0.01MΩ 10 .00MΩ～100.0MΩ為0.01MΩ | 1.00MΩ～10.00MΩ為0.01MΩ 10 .00MΩ～100.0MΩ為0.01MΩ | |
表 | 0.100GΩ～1.000GΩ為0.1MΩ 1.00GΩ～10.00GΩ為1MΩ | 0.100GΩ～1.000GΩ為0.1MΩ 1.00GΩ～10.00GΩ為1MΩ | 0.100GΩ～1.000GΩ為0.1MΩ 1.00GΩ～10.00GΩ為1MΩ | ||
| 精度 | 0.100kV～0.300kV：(1MΩ- 1.000GΩ) ±（10%讀值+2個字） | 0.100kV～0.300kV：(1MΩ- 1.000GΩ) ±（10%讀值+2個字） | 0.100kV～0.300kV：(1MΩ- 1.000GΩ) ±（10%讀值+2個字） | |
| 0.301kV～0.500kV：(1MΩ～5.000GΩ)小于1.000GΩ為±（5%讀值+2個字）大于1.000GΩ為±（10%讀值+2個字） | 0.301kV～0.500kV：(1MΩ～5.000GΩ)小于1.000GΩ為±（5%讀值+2個字）大于1.000GΩ為±（10%讀值+2個字） | 0.301kV～0.500kV：(1MΩ～5.000GΩ)小于1.000GΩ為±（5%讀值+2個字）大于1.000GΩ為±（10%讀值+2個字） | ||
| 0.501kV～1.000kV：(1MΩ～10.00GΩ)小于1.000GΩ為±（5%讀值+2個字）大于1.000GΩ為±（10%讀值+2個字） | 0.501kV～1.000kV：(1MΩ～10.00GΩ)小于1.000GΩ為±（5%讀值+2個字）大于1.000GΩ為±（10%讀值+2個字） | 0.501kV～1.000kV：(1MΩ～10.00GΩ)小于1.000GΩ為±（5%讀值+2個字）大于1.000GΩ為±（10%讀值+2個字） | ||
計 | 范圍 | 0～999.9s | 0～999.9s | 0～999.9s | |
時 | 分辨率 | 0.1s | 0.1s | 0.1s | |
器 | 精度 | ±（0.1%+50ms） | ±（0.1%+50ms） | ±（0.1%+50ms） | |
記憶組/測試步 | 50組/40步 | 50組/40步 | 50組/40步 | ||
